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導(dǎo)致介質(zhì)損耗因測(cè)量試驗(yàn)錯(cuò)誤結(jié)果的因素

更新時(shí)間:2023-01-03      點(diǎn)擊次數(shù):584

電容率, tan 和電阻率,無(wú)論是單一還是全部,都是絕緣液體的固有質(zhì)量和污染程度的重要指標(biāo)。這些參數(shù)都可用于解釋所要求的介電特性發(fā)生偏離的原因,也可解釋其對(duì)于使用該液體的設(shè)備所產(chǎn)生的潛在影響。

雖然只有嚴(yán)重污染才會(huì)影響電容率。但微量的污染卻能強(qiáng)烈地影響tan和電阻率。

不可靠的結(jié)果通常是由于不適當(dāng)?shù)娜踊蛱幚碓嚇铀斐傻奈廴?、由未洗凈試?yàn)池或吸收了水份,特別是存在不溶解的水份所引起。

在貯藏期間長(zhǎng)久暴露在強(qiáng)光線下會(huì)導(dǎo)致電介質(zhì)劣化,采用所推薦液體樣品貯存和運(yùn)輸以及試驗(yàn)池的結(jié)構(gòu)和凈化的標(biāo)準(zhǔn)化程序,可使由污染引起的誤差減至最小。